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射頻電容料位開(kāi)關(guān)的誤報(bào)現(xiàn)象解讀
2022-01-20產(chǎn)品中心/ products
中文操作系統(tǒng) -同時(shí)進(jìn)行3通道測(cè)試(0.3、0.5、5.0μm) -計(jì)數(shù)報(bào)告符合GB/T16292-1996及ISO14644-1標(biāo)準(zhǔn) -內(nèi)延遲測(cè)試時(shí)間,可自行設(shè)定,避免為人干擾 -可以設(shè)定的快捷鍵,一鍵測(cè)試,簡(jiǎn)單方便 -可存儲(chǔ)8000個(gè)測(cè)試數(shù)據(jù)
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